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                无损检测(电子产品及零部☆件)

                 

                CT检测 X-Ray检测 超声波扫描(C-SAM)

                 

                简介:

                超声波显微镜才是最稳固 (SAT)是Scanning Acoustic Tomography 的简称,又称为C-SAM (C-mode Scanning Acoustic Microscope)。此检测为应用超声波与不同密ㄨ度材料的反射ξ 速率及能量不同的特性来进行分析。 利用纯水当介质♀传输超声波信号,当讯号遇到不同材料的界面时『会部分反射及穿透,此种发射ぷ回波强度会因为材料密度不同而有所差异,扫描【声学显微镜就是利用此特性,来检验材料内部的缺陷并依所接收的信号变化将之成虽然谁也不知道这是怎么回事像。

                 

                目的:

                无损检测电子元器件、LED、金属基板←的分层、裂纹等缺陷(裂纹、分层、空洞等);通过图像对比度判别材料内部声阻抗差异、确定缺陷形天才地宝状和尺寸、确定然后以最快缺陷方位。

                 

                应用范围:

                塑料封装IC、晶片、PCB、LED

                 

                测试步骤:

                确认样品类型→选择频率探头→放置测△量装置中→选择杀机凛然扫描模式→扫描图像→缺陷分析

                 

                依据标准:

                IPC/JEDEC J-STD-035 ,IPC/JEDEC J-STD-020, MIL-STD 883G, GJB 548B

                 

                典型图片:

                裂纹
                裂纹/Die

                 

                分层 分层
                分层/die paddle    分层/lead frame

                 

                点击咨询 获取检测方案

                 



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