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                400-850-4050

                表面异物分析

                 

                有机异物分析 无机异物←分析 未→知异物分析 产品异常會不會真现象比对分析

                 

                未知╱异物分析主要针对较难辨别异物类型的情况下进行的综合分析,主要是结合了有机异物分析及无←机异物分析的方慢慢修煉了起來法。其分△析手段主要有以下几种:

                 

                分析手段 典型应用 分析特点 参考标准
                红外光谱FTIR 有机物定性;有机污染※物分析 能进行微区分析,其显微镜测量孔◎径可到8μm或更小,可方便地根据☆需要选择样品不同部分进行分析 GB/T 6040-2002
                扫描电子显微镜&X射线能谱SEM/EDS 表面微观形】貌观察;微米级尺寸量测;微区成分分析;污染物分析 能快速的对各种试样的微区内Be~U的大部分元素进行定性、定量分析,分析◥时间短 JY/T 010-1996
                GB/T 17359-2012
                飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS 有机材料和无机材料的表面微量分析;表面离子成像;深度剖面分『析█ 优异的掺杂剂和杂质检测灵敏度可以检测到ppm或更低的浓度Ψ ;深度剖析具有良好的检测限制和深度辨析率;小面积分析 ASTM E1078-2009
                ASTM E1504-2011
                ASTM E1829-2009
                动态二次离子质谱D-SIMS 产品表面微小的★异物分析;氧化膜厚度分析;掺杂元素的含量测定 分析区←域小,能分析≥10μm直径的异物成分;分析深度浅,可测量≥1nm样品;检出限高,一般是ppm-ppb级别 ASTM E1078-2009
                ASTM E1504-2011
                ASTM E1829-2009
                俄歇〓电子能谱AES 缺陷分析;颗粒分析;深度剖面分析;薄膜成分分析 可以作表面微●区分析,并且可以从荧光屏上直接获得俄歇元素像 GB/T 26533-2011
                X射线光电子能谱XPS 有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析;表面成╳分及化学状态信息;深度剖面分析 分析层薄,分析元素广,可以分析样品表面1-12nm的元素和元素含量 GB/T 30704-2014

                 

                点击咨询 获取♀检测方案

                 

                案例分析

                案件背景:

                某客户电子产品表面发现黑▓色异物,收到其客户投诉,且无法判断其成分及来源,故请我司对其成分进行分析并★判断其来源。

                 

                检测手段:

                FTIR分析、SEM/EDS分析

                 

                检测标准:

                GB/T 6040-2002 红外光谱分「析方法通则

                JY/T 010-1996分析型扫描电子显微镜方法通则

                GB/T 17359-2012微束分析 能谱法定※量分析

                 

                分析特別是他們惡魔一族和天使一族方法简介:

                1、通过显微镜放大观察发现该产品表面异于正常位置存在有大量∮黑色物质,发现▆样品表面杂乱,怀疑金烈瞇著眼睛为混合异物。故选择FTIR及EDS对该异物进行分析测试:

                 

                未卐知异物分析

                 

                2、在显╲微镜通过特殊取样工具取出产品表①面异物,使用FTIR对其成分进行分析,判定其有机主成分:

                 

                未知异物分︼析

                 

                3、然后对其红外光谱进行№解析,根据其分子结构特征,结合标准红外图谱一直隱藏了三分實力可知,该物⊙质有机主成分为聚氨酯树脂:

                 

                未知异々物分析

                 

                4、对该异物样品进行SEM/EDS分析,判定其它无机成分。对样品进行剥金@处理后,对样品表面镀Pt30s,放入SEM样品室中,对测试位置进行放大〒观察,发现样品表面有大量颗粒碎屑,怀疑隨著一個金仙龍族突破到玄仙为无机成分,然后使用 EDS对颗粒物质进行成分分析:

                 

                未知异物分析屠神劍 未知异物分析 未知异物分析

                 

                图谱 C O Na Al Si Cl Ca Fe Ni Total/%
                1 17.3 21.5 0.9 34.5 5.1 1.4 0.4 9.9 9.1 100
                2 24.6 20.7 0.5 31.1 4.5 0.6 0.5 9.0 8.4 100
                3 66.2 13.5 0.8 7.7 1.2 1.6 0.9 2.9 5.4 100

                 

                结论:综合FTIR及EDS结果表明,其中除含◣有聚氨酯树脂外,还含有大量金属Al碎屑,Si可能为铝合金中成分,Fe及Ni为基材成分。通过后期与客户沟通,发现该样品取下前接触面为一铝合金板,故该Al碎↘屑来源应为该铝合金板,聚氨酯树脂为其使用过△程中胶料的掉入。

                 

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